Na indústria de componentes eletrónicos é fundamental realizar testes que garantem a fiabilidade e a durabilidade dos produtos desenvolvidos, antes dos mesmos serem entregues ao cliente.
Entre as diversas etapas que asseguram a qualidade dos componentes e equipamentos, encontramos os testes Run-In e Burn-In, procedimentos essenciais em diferentes indústrias.
Ambos os testes se focam na operação dos dispositivos testados em condições controladas. No entanto, os seus métodos de ação e objetivos são distintos.
Neste artigo, explicamos as diferenças entre os testes Run-In e os testes Burn-In e como cada um atua nas instalações de uma fábrica de componentes eletrónicos.
Testes Run-In
O objetivo principal é dos testes Run-In é a identificação de falhas iniciais ou defeitos de fábrica que se possam manifestar no período inicial de operação dos componentes ou dos sistemas em que os componentes estão integrados.
Consiste em operar o equipamento ou componente sob condições típicas de uso, geralmente dentro da faixa normal de temperatura e tensão esperadas na aplicação real, sem submeter o produto a condições extremas.
Durante os Run-In, os componentes e dispositivos eletrónicos são energizados e podem ser submetidos a ciclos de temperatura e potência, simulando o ambiente de uso especificado pelo fabricante.
Estes testes, essenciais para verificar o desempenho dos equipamentos, são realizados em ambiente de produção controlado, habitualmente em bancos de ensaios.
Além de tudo isto, são uma etapa importante para garantir que os produtos funcionam corretamente no seu ambiente de aplicação normal e para reduzir o risco de devoluções e baixo desempenho.
Os ajustes necessários que forem identificados, habitualmente são realizados em bancas de calibração e ensaios funcionais.
Testes Burn-In
Os testes Burn-In destacam-se por acelerar o envelhecimento e desgaste dos produtos, sujeitando os mesmos a condições extremas num período definido.
A exposição de componentes eletrónicos a níveis de tensão, temperatura ou ciclos de potência superiores aos especificados, no curto prazo, fornece uma indicação do comportamento desses componentes sob stress, sem substituir testes de ciclo de vida completos no que diz respeito à previsão de durabilidade.
Com estes testes, provocam-se falhas latentes e, de forma prática, são excluídos componentes potencialmente defeituosos, que poderiam gerar problemas ao serem aplicados.
Por isto, são excelentes formas de evitar o fenómeno “infant mortality” (ou falha prematura) em equipamentos eletrónicos, como centralinas, sensores e módulos de potência.
Os dispositivos são colocados em câmaras especiais e submetidos a ciclos de condições extremas que podem durar algumas horas. Desta forma, os fabricantes asseguram que apenas os elementos mais robustos chegam ao mercado.
No caso de soluções para aplicações críticas, é comum aplicar testes em 100% dos componentes fabricados em determinado lote. Assegurando, assim, toda a fiabilidade exigida pelos clientes.
Estes testes podem ser estáticos ou dinâmicos. No caso dos testes estáticos, a aplicação de elevada temperatura e tensão é feita sem uma operação funcional do componente.
Para os testes dinâmicos, os equipamentos e dispositivos devem estar a operar normalmente ou a simular operações reais.
Principais Diferenças
Tão importante como compreender o funcionamento de cada um dos testes Run-In e Burn-In, é compreender quais são as diferenças-chave entre os dois.
De seguida, deixamos uma tabela que apresenta estas diferenças.
Normas Industriais para testes Run-In e Burn-In
De forma a garantir consistência e fiabilidade, os protocolos de Burn-In e Run-In implementados pelas empresas devem cumprir as normas da indústria.
Algumas das normas mais frequentemente referenciadas incluem a ISO 16750, que fornece diretrizes para testes ambientais de equipamentos elétricos e eletrónicos automóveis, a AEC-Q100 e a AEC-Q200, que definem os critérios de testes de fiabilidade para componentes eletrónicos automóveis.
A ISO 7637 estabelece procedimentos para testar perturbações elétricas em veículos, enquanto a SAE J1455 define normas de testes ambientais e de fiabilidade para equipamentos eletrónicos de serviço pesado.
Adicionalmente, a IEC 60068 abrange uma vasta gama de métodos de ensaio ambiental, incluindo testes de temperatura, humidade, vibração e choque.
No que diz respeito a protocolos de comunicação de diagnóstico de equipamentos da área automóvel, destacam-se também as normas ISO-14229 (Unified Diagnostic Services) e ISO 15765-2.
Muitos fabricantes de equipamentos (OEM) também impõem requisitos de teste próprios para garantir que são cumpridos padrões específicos de desempenho e fiabilidade.
Os seus componentes estão preparados para aplicações críticas?
Com uma aplicação fundamental em várias indústrias, como a automóvel, eletrónica de consumo e eletrónica industrial, as categorias de testes exploradas neste tem aplicabilidade em vários tipos de produtos.
Os sistemas de testes Run-In e Burn-In desenvolvidos pela Selmatron respondem às necessidades de diferentes aplicações, cumprindo com os requisitos das mesmas e assegurando o aumento da fiabilidade dos processos de fabrico e desenvolvimento.
Com as nossas soluções, as empresas têm à sua disposição formas precisas e seguras de realizar testes às propriedades e funções dos seus componentes eletrónicos.
Apenas assim, é possível garantir a melhoria contínua dos produtos que chegam aos clientes finais e estar na vanguarda da tecnologia, tendo a qualidade e o desempenho como prioridades absolutas.
